社団法人エレクトロニクス実装学会
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研究会名と活動概要
JIEP官能検査システム化研究会 第5回公開研究会開催のご案内
AIST計測・診断システム研究協議会 インスペクション技術研究会協賛 〈進化する画像センシングの最新技術動向〉
官能検査システム化研究会
主査 野中一洋(産総研)

◆ 開催趣旨
  ものづくりのグローバル化とともに、IoT、ビッグデータ活用など、産業の形態は新たな進化を迎えています。その一方で、製品の品質・信頼性をめぐる様々な課題が浮上しており、その重要性が改めて認識されています。
  当研究会では、目視検査を中心とした官能検査の自動化・システム化について、可視化、数値化、高速化、共通化など、様々な角度から議論を行ってきましたが、今回は、その中でも中心的な役割を果たしている画像センシング技術にフォーカスした議論を行います。
  講演会後に交流会(無料)を予定しています。奮ってご参加ください。
     
開催日時: 平成27年7月28日(火)〈13:30~16:50〉
会場: 回路会館 地下会議室
JR中央線西荻窪駅下車徒歩約7分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2  TEL.03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html
テーマ: 〈進化する画像センシングの最新技術動向〉
プログラム
○ 13:00
受付開始
○ 13:30
開会挨拶(野中一洋 主査)
○ 13:35~14:35
特別講演: 「画像技術の元気の素」
中京大学 輿水大和
要旨 画像技術はさまざまな現場で非常な活況を呈しているが、省察するとその本性は極まっていない。例えば、画像デジタル化の理論的根拠、エッジ検出の基本原理の枯渇、周辺視や大局視覚の技術不足、感性センシングの要請などなど。これらを通じて、画像技術の本物の元気の素を模索したい。
○ 14:35~15:15
一般講演1: 「光学技術と画像処理技術の融合」
(株)昭和電気研究所 大島琢也
要旨 弊社は、画像処理技術だけではなく、光学技術も持ちあわせており、”見えない”を”見える”にしてから画像処理に入ります。それにより、今までには無い検査手法が可能になっております。また、以前より得意としていた回路設計技術も取り込んで超高速スループットの安定化にも成功しております。下記の装置を例に上げ具体例を紹介します。
・ACF検査装置《ディスプレイ業界》
・ウェハクラック・チッピング検査装置《半導体業界》
○ 15:15~15:30
休憩 
○ 15:30~16:10
一般講演2: 「スギの葉形状による品種分類について-林業における官能検査の事例紹介」
産総研 重森清史
要旨 スギは、種類によって含水率が異なり、乾燥等の処理を行う場合、その種類を判別することは重要である。今回、葉の形状を用いた自動分類方法に取り組んだので、林業における官能検査事例として、その紹介を行う。
○16:10~16:50
一般講演3: 「Trillion Sensors Universeを拓くセンシング」
産総研 寺崎 正
要旨 年間1兆個のセンサを使用し、無意識損失の無い「潤沢な社会」への挑戦「Trillion Sensors Universe」が始動している。そこで講演では、本世界を拓く下記を紹介する。
① 連続的に膨大なプローブ(静電気、クラック、ひずみ等)を可視化するセンシング
② 超低価格・低環境負荷センサ
○ 17:10~18:10
技術交流会(名刺交換、情報交換等)
注1)プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
定 員 100名(先着申し込み順 定員になり次第締め切ります)
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
参加費 (予稿集代込み、消費税込み)
正会員:3,000円
賛助会員:4,000円
シニア会員:1,000円
名誉会員:無料
非会員:6,000円
学生会員:無料(学生証を受付で提示してください)
会員外の学生:1,000円(学生証を受付で提示してください)
注1) 参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注2) 賛助会員クーポン券のご利用はできません。
注3) 交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書のコメント欄にご記入ください。
申込方法 申し込みはここから。登録されますと参加登録確認メールが返信されます。

申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
問い合わせ先 エレクトロニクス実装学会 官能検査システム化研究会 第5回公開研究会 係
  ase@jiep.or.jp
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