社団法人エレクトロニクス実装学会
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エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
検査の立場から見たDFT研究会 公開研究会
『見えない、触れない』部品の検査  ~部品内蔵基板検査へのアプローチ~
エレクトロニクス実装学会検査技術委員会(委員長・梶谷林:日立製作所)/ 検査の立場から見たDFT研究会 (主査・内山浩志:富士ゼロックス)では、下記要領で公開研究会を開催します。今注目の部品内蔵基板技術について、検査やDFTの面でどうアプローチしていったらよいのか、講演者との議論も交えて方向性を探っていきます。奮ってご参加ください。
日 時: 2009年11月20日(金) 13:30~17:00
会 場: 国立オリンピック記念青少年総合センター センター棟4階 405号室
http://nyc.niye.go.jp/
東京都渋谷区代々木神園町3-1(小田急線参宮橋駅下車徒歩7分)
テーマ: :「見えない、触れない」部品の検査 ~部品内蔵基板検査へのアプローチ ~
プログラム:
(講演題目は仮題です。また、10/20現在講演交渉中のものも含みます。)
13:30~13:35  開会あいさつ
 研究会主査/富士ゼロックス(株):内山 浩志
13:35~14:15 <基調講演>
「グローバルなボード検査の概況」
 富士通(株):亀山 修一
14:15~14:45 「SIPにおけるDFTソリューション」
 (株)ルネサステクノロジ:田中 英樹
(休憩)  
15:00~15:30 「部品内蔵基板の生産、検査の現状」
 EPADs研究会/沖プリンテッドサーキット(株):飯長 裕
15:30~16:00 「内蔵受動部品、能動部品の電気検査における課題」
 検査技術委員会/日置電機(株):山嵜 浩
16:00~16:30 「ボードテスト検査装置の課題」
 検査技術委員会/富士ゼロックス(株):内山 浩志
16:30~17:00 自由討論(発表者との自由討論・情報交換)
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
主 催: (社)エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
検査の立場から見たDFT研究会
参加要領:
定 員 70名(先着申込順)
参加費 公開研究会(テキスト代、消費税込み)
 正会員・賛助会員:2,000円  非会員:3,000円
 シニア会員(65才以上の会員)&学生:1,000円
 参加費は当日会場受付にて徴収します。(釣り銭のないようにお願いします。)
申込方法:
下記の内容をEメール(下記)でお送りください。
  定員(70名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。
必ず事前にお申込みください。なお、参加券等の発行はしておりません。
申込先: *小川武男(富士通株式会社):ogawa.takeo@jp.fujitsu.com
申し込み用紙: *会員区分(該当内容に○印を付けて下さい)
 ( ) 正会員(会員番号         )
 ( ) シニア会員(会員番号         )
 ( ) 賛助会員
 ( ) 非会員
 ( ) 学生

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