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日時： |
2011年11月25日（金） 13:00～17:15 |
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会場： |
エレクトロニクス実装学会 回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2
TEL．03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
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テーマ： |
見えない、触れない』超高密度実装基板における最先端検査技術
～ＤＦＴ＆検査故障解析技法と前工程へのフィードバック～ |
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プログラム： |
| 12:30 |
受付開始 |
| 13:00～13:15 |
開会あいさつ
日置電機：山嵜 浩（ボードテスト技術研究会 主査） |
| 13:15～13:45 |
「バウンバリスキャンテスト技術の最新動向」
--ロボトミー問題とメモリー素子に対応する新規格--
富士通：亀山 修一 |
| 13:45～14:15 |
「試験容易性設計の進め方の提案」
日立製作所：梶谷 林 |
| 14:15～14:45 |
「マルチプローブを用いたプリント配線板検査システムの開発」
東京電機大学：野口 祐智 |
| 14:45～15:00 |
休憩 |
| 15:00～15:30 |
「最新のCAD/CAMシステムにおけるDFT環境のご紹介」
図研：山本 晃司 |
| 15:30～16:00 |
「SiP製品の検査およびDFT」
ルネサスエレクトロニクス：菊池 隆文 |
| 16:00～16:25 |
自由討論（発表者との自由討論・情報交換） |
| 16:25～16:30 |
閉会あいさつ
富士ゼロックス：内山 浩志（検査技術委員会 委員長） |
| 16:30～17:15 |
交流会（名刺交換・情報交換等） |
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。 |
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主催： |
（社）エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
ボードテスト技術研究会 |
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参加要領： |
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定員 100名(先着申込順) |
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参加費 公開研究会(テキスト代、消費税込み)
正会員・賛助会員：3,000円
非会員：4,000円
シニア会員(60歳以上の会員)＆学生：1,000円 |
| ＊ |
交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書にご記入ください。 |
| ＊ |
参加費は当日会場受付にて徴収します。 (釣り銭のないようにお願いします。) |
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申込方法： |
| ＊ |
下記の内容をＥメール(下記)でお送りください。
参加を受付後、受付番号を記入した確認メールをお送りします。
なお、参加券等の発行はしておりません。 |
| ＊ |
定員(100名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。
必ず事前にお申込みください。 |
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申込先： |
山嵜 浩（日置電機株式会社：selmer@ieee.org |
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申し込み用紙： |
＊会員区分(該当内容に○印を付けて下さい)
( ) 正会員 （会員番号 ）
( ) シニア会員（会員番号 ）
( ) 賛助会員
( ) 非会員
( ) 学生
＊交流会(該当内容に○印を付けて下さい)
( ) 参加
( ) 不参加
＊氏名：
＊氏名ふりがな：
＊社名（学校名）：
＊所属部署（学部/学科）：
＊連絡先
住所：
TEL.：
E-mail：
会員区分にご記入がない場合は、非会員として受付処理をさせていただきますので、会員の方は、必ずご記入ください。 |
