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日時： |
２０１０年１１月２６日（金） １３：００～１７：００ |
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会場： |
国立オリンピック記念青少年総合センター
センター棟３階 310室
http://nyc.niye.go.jp/
東京都渋谷区代々木神園町３－１
(小田急線参宮橋駅下車徒歩7分) |
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テーマ： |
「見えない、触れない」基板の検査 ～検査の付加価値とは？～ |
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プログラム： |
(講演題目は仮題です)
| 13:00～13:05 |
開会あいさつ
日本大学：原靖彦 |
| 13:05～13:30 |
「2011年度 検査技術ロードマップ」
日置電機：山嵜浩 |
| 13:30～13:55 |
「設計工程から製造までの一貫システム
～設計工程から製造検査まで～」
日立製作所：梶谷林 |
| 13:55～14:20 |
「高精度高精細基板の実装検査
～高密度基板外観検査動向～」
名古屋電機工業：豊島保典 |
| （休憩） |
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| 14:30～14:55 |
「部品内蔵基板の検査
～半製品の検査と保証～」
検査技術委員会 |
| 14:55～15:20 |
「検査の経済学」
富士ゼロックス：内山浩志 |
| 15:20～15:45 |
「海外での品質保証事情
～中国駐在員が語る生々しい困り事～」
仮）富士ゼロックス：内山浩志 |
| 15:45～16:50 |
自由討論（発表者との自由討論・情報交換） |
| 17:00～18:00 |
立食懇親会（名刺交換・情報交換等）
「レストランとき」オリンピックセンター カルチャー棟２階 |
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。 |
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主催： |
（社）エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
ボードテスト技術研究会 |
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参加要領： |
| 定 員 |
120名(先着申込順) |
| 参加費 |
公開研究会(テキスト代、消費税込み)
正会員・賛助会員：3,000円 非会員：4,000円
シニア会員(６５才以上の会員)＆学生：2,000円
参加費は当日会場受付にて徴収します。
(釣り銭のないようにお願いします。) |
立食懇親会参加費一律：1,000円
(釣り銭のないようにお願いします。) |
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申込方法： |
下記の内容をＥメール(下記)でお送りください。
定員(120名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。
必ず事前にお申込みください。なお、参加券等の発行はしておりません。 |
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申込先： |
小川武男（富士通株式会社）
ogawa.takeo@jp.fujitsu.com |
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申し込み用紙： |
＊会員区分(該当内容に○印を付けて下さい)
( ) 正会員 （会員番号 ）
( ) シニア会員（会員番号 ）
( ) 賛助会員
( ) 非会員
( ) 学生
＊立食懇親会(該当内容に○印を付けて下さい)
( ) 参加
( ) 不参加
＊氏 名
＊氏名ふりがな
＊社名（学校名）
＊所属部署（学部/学科）
＊連 絡 先
住 所
TEL.
E-mail
会員区分にご記入がない場合は、非会員として受付処理をさせていただきますので、会員の方は、必ずご記入ください。 |
